天瑞合良好號分析儀 手持合金分析儀的原理

天瑞合良好號分析儀 手持合金分析儀的原理

手持式合金分析儀是一種XRF光譜分析技術，可以用來確認材料中的特定元素，同時對其進行量化。具體元素可以根據X射線的發射波長(λ)和能量(E)來確定，這些元素的數量可以通過測量相應射線的密度來確定。這樣，XRF度普術就可以測量物質的元素組成。
每個原子都有自己的固定數量的電子（負電粒子）在**周圍的軌道上運行。其電子的數量相當于核中的質子（正電粒子）的數量。我們可以從元素周期表中的原子數中知道質子的數量。每個原子的數量對應于固定元素的名稱，如鐵，元素的名稱是Fe，原子的數量是26。能量色散X熒光和波長色散X熒光光譜分析技術專門研究和應用了三個較內層的電子軌道，即K、L其中K軌道接近核，每個電子軌道對應一個特定的能量層。
在XRF分析中，手持式合金分析儀從從X射線發射管射出的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量來擺脫內部的電子沖擊，即K或L。此時，原子變成不穩定的離子。由于電子本能尋求穩定性，外部L或M電子將進入以彌補內部空間。當這些電子從外層進入內層時，它們釋放能量，我們稱之為二次x射線光子。
整個過程被稱為熒光輻射。每個元素的二次射線都有自己的特點。X射線光子的熒光輻射產生的能量是由電子轉換過程中內層和外層之間的能量差異決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量約為6.4千電子伏。X射線的數量或密度在特定元素在一定時間內輻射，可用于測量該元素的數量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時間光子密度的分布。
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